CIS芯片測(cè)試系統(tǒng)解決方案
覆蓋CIS芯片測(cè)試全流程，為各環(huán)節(jié)測(cè)試提供創(chuàng)新性方案
CIS芯片后道測(cè)試解決方案
● 辰卓系列化測(cè)試設(shè)備可覆蓋CIS芯片測(cè)試全流程，為各環(huán)節(jié)測(cè)試提供創(chuàng)新性解決方案
● 國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的Docking和Cable測(cè)試方案
● 國(guó)內(nèi)首創(chuàng)可同時(shí)支持"高速圖像采集+精準(zhǔn)電特性檢測(cè)+數(shù)字邏輯測(cè)試"的一體化CIS測(cè)試解決方案
● 國(guó)內(nèi)首創(chuàng)基于高性能ARM平臺(tái)的多通道CIS SLT系統(tǒng)
CIS芯片后道測(cè)試解決方案
● 國(guó)內(nèi)首創(chuàng)圖像、電性、邏輯測(cè)試一體化的CIS測(cè)試機(jī)，極大簡(jiǎn)化測(cè)試機(jī)臺(tái)結(jié)構(gòu)復(fù)雜度、減少芯片測(cè)試中轉(zhuǎn)流程，提升了測(cè)試穩(wěn)定性
● 業(yè)界領(lǐng)先的MIPI D-PHY和C-PHY速率，完善的電測(cè)功能，覆蓋CIS芯片后道測(cè)試全流程
● 可支持16/32 Sites并發(fā)測(cè)試，測(cè)試執(zhí)行高效
CIS芯片后道測(cè)試解決方案
● 國(guó)內(nèi)首款CZC800-32D Docking連接CIS測(cè)試機(jī)，可獨(dú)立完成CIS測(cè)試工作
● 業(yè)界領(lǐng)先的MIPI D-PHY和C-PHY速率，兼具先進(jìn)的電特性測(cè)試功能，可極大提升CIS CP測(cè)試穩(wěn)定性、精準(zhǔn)度
● 多通道測(cè)試板卡可選，滿足不同客戶及場(chǎng)景需求